Отраженный металлургический микроскоп

Пункт Номер. :

MJ32

Детали поставщика

www.microscope-camera-manufacturer.com

Страна : Китай

Сити :

Адрес :

TEL: +--

Fax : +--

Он-лайн выставочный зал : 41 Продукты

Детали продукта Поставщик профиля

Чистосердечный bight или микроскоп MJ32 темноты переданный или отраженный светлый металлургический будут multi-purpose аппаратурой производственный контроль оптически. Я оборудовано при задачи яркого или темного поля, широкие окуляры поля и интегрированное приспособление замечания поляризации, иллюминатор Kohler используемый в переданной и отраженной загораясь системе, MJ32 может предложить вам все поле ясности и единообразия. Это будет идеально аппаратурой для того чтобы проверить плиту вафли кремния полупроводника, пола LCD, плиту electrocircuit, твердый порошок и все вроде образец индустрии который просвечивающе или opaque.MJ32 широко использует в поле биологии, металлографии, минералогии, инженерства точности, электроники, cEtc.

Характеристики MJ32:
система Infinity ▲ оптически и функция modularization конструируют.

W. задачи плана яркого или темного поля d Long ▲ (OTSUTSTVIE стекла крышки), широко и ясный взгляд поля.

окуляры Ф22mm плана Широк-поля ▲.

▲ система Coaxial грубая/точная фокуса, с tensional регулируемым и поднимающим вверх стопом, минимальное разделение фокусировать штрафа: 2μm.

замечание поляризации Integrated ▲, 360°circumrotated.

освещением The Epi- ▲ будет светильник галоида 12V 50W и крышка коробки светильника можно вращаться, заменяющ ть средство светильника и безопасность. Переданным освещением будет светильник галоида 12V 30W и радиатор добавлять.

поток ▲ 100% светлый, костюм к microphotography темного поля.

Стандартная конфигурация:

Модель	MJ32
Окуляр	Широкое поле WF10X (номер поля:¦µ22mm)
объективно	Яркое плана безграничности ахроматическое или темное поле с длинним расстоянием работы. (OTSUTSTVIE стекла крышки)
	PL L5X/0.12 B. d (расстояние Work):9.7 миллиметра
	PL L10X/0.25 B. d (расстояние Work):9.3 миллиметра
	PL L20X/0.40 B. d (расстояние Work):7.2 миллиметра
Пробка окуляров	PL L40X/0.60 B. d (расстояние Work):3.0 миллиметра
Пробка окуляров	Trinocular, Inclination 30˚, (анализатор Integrated и переключение свободно)
Система освещения Epi-	светильник галоида 12V 50W, регулируемая яркость
Система освещения Epi-	Интегрированная диафрагма поля, диафрагма апертуры и аппаратура коммутационн фильтра. Пушпульные анализатор и поляризатор типа
Система фокуса	Коаксиальная грубая/точная система фокуса, с напряжением затвор регулируемых и предела, минимальное разделение фокусировать штрафа: 2μm.
Nosepiece	Quintuple (размещать шарикоподшипника Backward внутренний)
Этап	Двойной слой механически (Size:210mmX140mm, movingrange:75mmX50mm)

Опционное вспомогательное оборудование:

Имя	Параметр вида/Technique
окуляр	Разделять окуляр (номер поля:¦µ22mm) 0.10mm/Div
Объективно	Яркого плана безграничности ахроматическая задача или темного поля с длинним W. d (OTSUTSTVIE стекла крышки)
	Distace PL L50X/0.70B. d Work:2.50mm
	PL L60X/0.70 distace B. d Work:1.90 миллиметра
	Distace PL L80X/0.80B. d Work:1.25mm
	Distace PL L100X/0.85B. d Work:0.22mm
Фильтр (переданное For)	Зеленый фильтр
Фильтр (переданное For)	Желтый фильтр
Камера цифров	MD10/20/30/50/90
Камера цифров	MC15/20/30/50

Домой » Каталог продукции » Оптика и камеры » Микроскоп » Отраженный металлургический микроскоп

Отраженный металлургический микроскоп

Отраженный металлургический микроскоп